扩展数据图2:测量数据汇总δn实验值通过激光加热增加步骤实现。
而不是分析激光熔化碎片后释放的所有Xe，可调谐加热激光器首先设置为较低的功率(表示为应用于激光源的功率电压V)。每个加热平台保持几分钟，使用方法部分中描述的相同的一般方案，用质谱分析释放的Xe。他们在橄榄石和三苯胺样品上做了一些尝试。它们都指向Xe主要在熔点(或接近熔点)离开材料。只有两个桑尼丁实验，S1-11d与1%Xe气体和S1-19b与100%Xe气体，导致成功测量了两者的所有加热步骤δn和[Xe]值，如图所示。每个点面积与在加热平台处提取的Xe含量([Xe])成正比。星星是δn组合所有的值δn测量和加权的每个[Xe]，换句话说δn如果样本碎片直接熔化，我们就会测量。对于S1-11d (1% Xe气体)，我们观察到的变化δn大约是加热斜坡的两倍。对于同样的样品，在最低的激光电压下证明了未分馏的成分，但只占边际部分(占总释放Xe的5.3%)。由于在相同的加热功率下，S1-19b的Xe释放量仅为总Xe的45% (100% Xe气)，这一数值较低T释放可能与被困为气泡的Xe有关。最高的T，即．在样品熔点处，S1-19b和S1-11d测得分数分别为0.54±0.12‰/amu和0.61±0.11‰/amu，这表明Xe组分中含有一些分馏的Xe，但仍有未分馏的Xe组分降低了整体测量值δn．这间接证实了Xe化学掺入和相关的同位素分馏发生在所有样品中T≤1100℃;δn对于100% Xe气体制备的样品，接近于零，这只是由于一种破坏现象，其程度与Xe分压成正比:矿物过饱和(气泡形成，如图扩展数据图所示)。3.)．用于构建该图的详细数据见补充资料文件中给出的S111d和S1-19b的结果表，合成条件见扩展数据表1
